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QNix 7500膜厚测试仪

产品描述：QNix7500膜厚测试仪一体分体通用，可通过更换探头来满足不同的测量需求。探头可直接与主机连接，进行一体化测量，也可通过探头电缆线来与主机连接，进行分体测量。分体测量操作简单，可很大程度上避免误操作产生的误差。该仪器主机有普通型和记忆性两种，探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头，探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种，用户在购买该产品时要根据需求选购合适的探头，如有不明白的地方敬请来电咨询。

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产品介绍

一、Qnix7500镀层测厚仪产品简介

QNix7500膜厚测试仪一体分体通用，可通过更换探头来满足不同的测量需求。探头可直接与主机连接，进行一体化测量，也可通过探头电缆线来与主机连接，进行分体测量。分体测量操作简单，可很大程度上避免误操作产生的误差。该仪器主机有普通型和记忆性两种，探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头，探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种，用户在购买该产品时要根据需求选购合适的探头，如有不明白的地方敬请来电咨询。

二、Qnix7500镀层测厚仪产品特点

1.只需调零、无需校准
2.Fe/NFe、Fe、NFe多种探头可选
3.一体化、分体自由组合
4.自动开关机
5.可配多种探头
6.可存储3900组数据(7500记忆型)

三、Qnix7500镀层测厚仪技术参数

型号	Fe-2000	Fe-5000	Nfe-2000	Nfe-5000	Fe/Nfe-2000	Fe/Nfe-5000
基体	铁	铁	非铁	非铁	铁/非铁	铁/非铁
探头形式	一体/分体	一体/分体	一体/分体	一体/分体	一体/分体	一体/分体
探头角度	0°/90°直角	0°/90°直角	0°	0°	0°	0°
测量范围	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm	0－5000μm
主机类型	普通/存储	普通/存储	普通/存储	普通/存储	普通/存储	普通/存储
显示	LCD液晶显示
测量精度	0－2000μm：≤±2%，2000－5000μm≤±3%
显示精度	0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作温度	－10 － +60℃
温度补偿	0－60℃
存储	3900个测量值，999个数据组(仅限存储型)
数据传输	RS232打印、电脑(仅限存储型)
统计功能	平均值、最大值、最小值、标准偏差(仅限存储型)
最小基体	Fe：10mm×10mm NFe：6mm×6mm
最小曲率	凸半径：5mm，凹半径：30mm
最薄基体	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电源	9V碱性电池1节
重量	150g
尺寸	110×60×24mm
标准配置	主机、探头、基体、包装盒、随机资料
可选配置	标准膜厚片、探头导线、电脑连接线、软件

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